Colaboração: Prof. Dr. Admilton Gonçalves de Oliveira Junior (UEL) e Osvaldo Capelo (microscopista do Laboratório de Microscopia Eletrônica e Microanálise - LEMEM, UEL).
SALA: -
1 - Introdução - microscopia óptica x microscopia eletrônica de varredura: critério de resolução;
2 - Introdução à microscopia eletrônica de varredura (MEV): elétrons primários, tipos de interação elétrons com a matéria; elétrons secundários (SE), elétrons retroespalhados (BSE);
3 - Principais componentes do microscópio eletrônico de varredura e tipos de detectores e formação da imagem;
4- Introdução à espectroscopia de energia dispersiva de raios X (EDS);
5 - Discussão de imagens de cerâmicas ferroelétricas: microscopia ótica x microscopia eletrônica de varredura;
6 - Visita técnica ao Laboratório de Microscopia Eletrônica e Microanálise (LEMEM) da Universidade Estadual de Londrina (UEL): introdução aos processos de preparação de amostra para o MEV; apresentação do microscópio eletrônico de varredura e acompanhamento de uma análise de determinado material por microscopia eletrônica de varredura. Tem- se também o acompanhamento da análise por EDS.